IBIS能满足EDA工业不断增长的需求吗？
在进行数字系统的信号完整性分析时,到底应该使用IBIS还是SPICE作为输入建模语言,业界已有许多文章对此进行过讨论。本文简要回顾了这两种方法的发展史、介绍了近几年IBIS的一些新发展、并展望了I...
[国际工业自动化网] http://www.iianews.com2000-11-26
面向对象的设计方法可加速应用程序开发
随着新的EDA公司将高端Unix的性能结合到低端PC工具中,工程师设计和开发高频电子产品的方法即将发生巨大变化。这些新一代EDA工具除了能提供杰出的计算能力外,还能提供模型、库和其他对射频(RF)和...
[国际工业自动化网] http://www.iianews.com2000-11-26
用FPGA设计软件无线电和调制解调器
本文以16-QAM RF发射数据泵的设计为例,介绍利用FPGA设计数字滤波器的技巧和器件选择方法,说明执行分布式计算时FPGA比DSP的优越之处。
所有数字逻辑的基本结构
16-QAM调制器
编码和码元...
[国际工业自动化网] http://www.iianews.com2000-11-26
系统级芯片设计初期的测试规划策略
系统级芯片(SoC)的特点与众不同,主要体现在如下多个方面:用户定义的各种逻辑、大型存储器阵列、内核、IP、可编程逻辑、微型宏以及散布在各种模块中的数百种不同种类的小型存储单元。SoC的基础是...
[国际工业自动化网] http://www.iianews.com2000-11-26
将哈勃望远镜技术用于芯片缺陷检测
目前有很多资料介绍放射显微镜(图1)可以探测到由损坏的硅半导体器件发出的光辐射。绝大多数有缺陷的芯片会发出可见光或近红外线(NIR),但由于这些光线的强度相差很远,因此用放射显微镜对这类缺陷...
[国际工业自动化网] http://www.iianews.com2000-11-26
大型PLD需要建立自己的物理模型
随着系统复杂性的增加和产品面市时间的缩短,ASIC成本过高和开发周期过长的问题已经不能满足设计的需要,于是工程师开始选用数百万门可编程逻辑器件(PLD)。PLD结构复杂,但是开发成本低廉,所以PLD的...
[国际工业自动化网] http://www.iianews.com2000-11-26
深亚微米芯片设计中验证工具的评估准则
深亚微米工艺能够集成更多的逻辑门,从而将更多功能集成在微小的单芯片上,但是,验证功能和测试芯片的困难却越来越大,设计工程师常常抱怨,功能验证时间已经占到整个设计周期的百分之七十。
作者:...
[国际工业自动化网] http://www.iianews.com2000-11-26
虚拟工厂:改进供应链的信息交流
国家电子制造协会(NEMI)提出的虚拟工厂概念将有助于OEM和电子制造服务(EMS)商家提高产品质量,缩短上市时间。与其它产品一样,电子产品在进入市场之前也需要通过多重机构的审查。
协作与合作
...
[国际工业自动化网] http://www.iianews.com2000-11-26
SoC和SLI时代的FPGA设计复用策略
中国工程师正在采用越来越多地FPGA设计产品,在不久的将来,FPGA将广泛应用于今天由标准单元asic技术实现的设计。设计复用将成为芯片系统级集成趋势的催化剂,而对FPGA复用策略的理解和掌握将直接影...
[国际工业自动化网] http://www.iianews.com2000-11-26
PC实现TV out所需要的最重要特性
多媒体技术的发展使PC用户能够在电视机上显示文本信息。本文讨论VGA和主板设计所需的应用用户界面及其特点。
TV输出架构
自适应闪烁滤波
支持国际标准的必要性
数字电视
终端用户...
[国际工业自动化网] http://www.iianews.com2000-11-01
结果页码:
上一页
2593
2594
2595
2596
2597
2598
2599
2600
2601
2602
2603
2604
2605
2606
2607
2608
2609
2610
2611
2612
下一页
